-
Semiconsoft MProbe Vis膜厚测试仪
Semiconsoft MProbe Vis膜厚测试仪让你成为测量专家 !大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量:氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体(Si, aSi
-
Semiconsoft MProbe 膜厚测试仪
Semiconsoft MProbe 膜厚测试仪MProbe 让 你 成 为 测 量 专 家 !大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量:氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体
-
OPTM 半导体膜厚测试仪
item· 绝对反射率测量· 膜厚解析· 光学常数解析(n:折射率、k:消光系数)构成图半导体膜厚测试仪OPTM 式样Specifications※ 上述式样是带有自动XY平台。※ release
-
显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
-
显微反射膜厚仪MProbe MSP
产品概述 MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy
-
膜厚测量仪FE-3
膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎(专利 第4834847号)可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持远程遥控,多点测量采用长使用寿命,高
-
膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
-
安捷伦 UV-Vis ChemStation 软件UV-Vis ChemStation 软件
-
F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
-
MProbe Vis薄膜测厚仪
MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs
-
1.
沃特世国产液质联用系统首发,持续加码本土化布局
-
2.
安捷伦推出新型光谱流式细胞仪NovoCyte Opteon
-
3.
总投资539.82亿元 贵州发布第一批大规模设备更新清单
-
4.
浙大328亿排第二!全国高校2024年度预算经费出炉,24所高校破百亿
-
5.
江苏省大规模设备更新 2027年教育卫生仪器设备更新44万套以上
-
6.
拉曼光谱仪2024Q1市场分析| 科研之光VS监管之盾的双重选择
-
7.
42个领域 北京2024年首批设备购置与更新改造贷款贴息项目开始申报
-
8.
美国将37个中国实体列入“黑名单” 含一所高校 多家科研院所
-
9.
8分委 187人 国家药监局成立化妆品标准化技术委员会
-
10.
国办印发《关于创新完善体制机制 推动招标投标市场规范健康发展的意见》
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net